讯技光电科技（上海）有限公司多年来致力于在杂散光领域为广大客户提供全方位的顾问咨询以及整体解决方案。我们拥有在此领域有多年经验的专家工程师团队，并掌握着最前沿的杂散光分析与测试技术。其服务主要包含以下三个方面：
□ 承接杂散光仿真服务
□ 散射测试服务
□ 定制光散射仪
一、承接杂散光仿真服务
杂散光会导致图像中存在多余的光，从而降低成像的品质。对于探测系统来说，杂散光会降低系统的灵敏度。对于成像系统，可能会降低照片质量。对于投影系统，杂散光会在光束中产生不必要的亮斑。这些都会影响光学系统的性能。杂散光可能由透镜表面间的多次反射、结构反射、CIS（MCMOS图像传感器）造成，也可能是由于红外光学系统自身热辐射所产生。这些杂散光都有可能对正常的成像造成影响。随着光学系统探测要求越来越高，杂散光会影响光学系统的性能，降低成像对比度和画面质量，甚至影响信号，因此对杂散光进行分析和抑制的要求也逐步受到关注，也成为是光学系统像质检测的必要环节之一。杂散光仿真服务包括:
□ 光学系统内部机构件表面的反射光
□ 漏光
□ 从系统光学表面的灰尘或其他缺陷处反射出来的散射光
□ 对于地面天文学来说，由城市上空大气的光反射引起的天空辉光
□ 太阳、地球和月球的轨道望远镜杂散光。
□ 衍射杂散光
□ 冷反射&热辐射
□ 杂光复算
杂散光的分析与抑制是成像系统设计中一个重要而复杂的课题。本公司代理的FRED软件是美国Photon Engineering公司开发的一款杂散光分析软件，与其它软件对比，FRED软件以杂散光仿真计算准确、功能全面、仿真速度快(CPU多达127线程的计算能力&支持GPU计算)，其知名度和市场已经遍布全世界，现任公司总裁兼联合创始人Richard Pfisterer作为散射理论/测量和杂散光分析方面的世界领先权威人士。具有35年以上的成像和非成像系统光学设计、软件开发、光学系统分析、光束传播和物理光学建模/仿真经验，Photon Engineering已成为北美领先的光学咨询集团。
图1. 詹姆斯韦伯太空望远镜散射仿真与实测对比，Stray light modeling of the James Webb Space Telescope (JWST) Integrated Science Instrument Module (ISIM) https://doi.org/10.1117/12.2238827
图2. TMT30米望远镜模型 红色摄像头的鬼像辐照度（四个量的杂散光计算：关键物体的识别、预估杂散光背景、离轴抑制特性PST、鬼像的形成）
二、散射测量服务
光散射测量的方法也是减少杂散光对设计性能的一种方式。本公司系列的BSDF表面散射测量提供了一种快速、准确的方法来模拟光散射量，从而在制造之前评估光学加工对光学产品性能的影响。
主要测量功能及参数：
□ 基于ASTM E2387标准的角分辨散射（BSDF，ARS）
□ 基于ISO 13696标准的总散射值TS（Total Scattering）
□ 覆盖整个3D空间的散射分布（2D& 3D）
□ 高灵敏度，对应于ppm级的散射损耗和亚纳米级的粗糙度
□ 测量模式：ARS , BRDF, BTDF, R, T, TS, 表面粗糙等
□ 波长测量范围：320nm～1550nm范围内单波长可选；红外波段（4.6um, 10.6um）
□ 表面类型：平面&曲面
□ 超精细角度分辨率：可到（0.01°）
□ 最小接近角：≤0.1°
□ 系统重复性精度：优于±2%（RMS）
□ 最大样品直径：100mm
□ 最大样品重量：约 500g
□ 测试数据输出格式：FRED /ASTM /LightTools / TracePro / ASAP / ZEMAX/ SPEOS/ OP TIS/ OptiCAD（可定制）
除了软件分析，光散射测量的方法也是减少杂散光对设计性能的一种方式。本公司系列的BSDF表面散射测量提供了一种快速、准确的方法来模拟光散射量，从而在制造之前评估光学加工对光学产品性能的影响。
可测量波长概览
应用领域：
超级光滑表面，超粗糙表面，衍射光栅，光学成像应用，薄膜干涉，黑色涂层，曲面光学元件，微型或超大光学元件。
测量实例：
无样品时对空气进行ARS测试：
图 3. 无样品时的ARS测量（@405 nm,532nm and 640nm）
图4. 近红外下对Acktar[1]黑色涂层的散射测量，左图：用于BepiColombo太空任务的红外光谱仪；右图：4.6  下ARS角分辨散射分布，入射角0°，10°，40°，60°，80°。
图5. 金刚石车削的铝反射镜，金刚石打磨的Al镜的3D光散射分布及其白光干涉仪的表面形貌测量：左图：车削痕迹引起的衍射为主的散射分布；右图：振动引起的衍射峰被抑制而入射面外散射增强的散射分布。
图6. 金刚石打磨抛光铝镜的散射扫描及其相应位置的ARS测量，左图: 散射扫描@532nm，散射角25°，样本大小200*160mm 2；右图：相应位置ARS测量。
备注：
[1] T. Kralik, D. Katsir, "Black surfaces for infrared, aerospace, and cryogenic applications", Proc. SPIE 7298, 729813 (2009)
三、定制光散射系统
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