摘要
Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。
建模任务
具有高反射(HR)涂层的标准具
图层矩阵解算器
分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含
1. 一个特征模求解器为每个均匀层和
2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。
本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。
这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。
更多的信息：
总结-组件
两条光谱线的可视化
精细vs.涂层反射率
精细度vs.涂层反射率
内部谐振增强
整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。
请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。
注意: 传输值取自艾里图案的中心
VirtualLab Fusion技术
文件信息
进一步阅读
- Modeling of Etalon with Planar or Curved Surfaces
- Coherence Measurement Using Michelson Interferometer and Fourier Transform Spectroscopy
- Stratified Media Component
|
