该文档描述利用FRED脚本编程语言一次对一组表面应用“重要性采样定义”（importance sampling specifications）的一种方法。 与光源、表面、镀膜、材料、散射模型、ARN和raytrace控制设置不同， 散射的“重要性采样定义”在Fred 的目标树上没有参考节点。通常情况下，用户可能会通过拖拉（drag and drop）的方式，把一个光学表面特性施加到一组光学表面，而散射“重要性采样定义”因没有目标树上的节点位置，无法用“拖拉”的方式进行表面特性定义，它通过利用脚本编程语言来实现这一功能。

 http://fred-kb.photonengr.com/files/2010/12/setImportanceSampling.frd

 Applying Importance Sampling Specifications in Script