光学干涉测量系统的物理光学仿真

LightTrans 讲座
 

SPIE Photonics West 2019 大会
 

光学干涉测量系统的物理光学仿真
 

SPIE OPTO – 第一场： 光子仪器的设计、改进及制造
 

时间：2019年2月5日│ 14:20 ─ 14:40
 

Site Zhang, Rui Shi, Christian Hellmann, and Frank Wyrowski
 

基于干涉仪的现代光学测量技术在诸多领域发挥着重要的作用，并往往包含多种类型元件。而改善系统性能或丰富系统功能的新方法，通常会产生系统分析和组装的问题。为解决这一问题，我们提出一种基于物理光学的仿真途径。该方法从光源的电磁表征出发，可以进行相干和偏振的模拟。我们演示了如何在选定的经典干涉测量装置中集成新组件（从显微镜物镜到衍射、微纳米结构），并测量所得系统是否满足功能需求。

 

了解更多信息，请发送邮件至：support@infotek.com.cn / support@infocrops.com

网址：http://www.infotek.com.cn / http://www.honglun-seminary.com