角分辨散射测量仪ALBATROSS

左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。

 

系统简介
 

ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。

 

特征及技术参数
 

-  可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF，

-  双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D）

-  入射光与探测器可共面或异面。

-  入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。

-  可对样品进行扫描。

-  动态范围： 13个数量级。

-  最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。

-  对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。

-  波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。

-  样本规格：最大尺寸直径700mm。

-  方便操作的测量及分析软件。

-  可分析值： 粗糙度，PSD等。

 

应用
 

对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析

-  产品质量检测。

-  光学性能分析。

-  粗糙度分析。