Macleod 10.4新版本发布 - 讯技光电科技(上海)有限公司

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Macleod 10.4新版本发布

时间:2017-04-20 14:09来源:讯技光电作者: 技术部点击:次打印

Core

 增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取，为了能使用椭偏数据，从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。

 现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册

 反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。

 反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ；对于Differential Evolution会显示 “<DE>”

 如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。

 优化目标增加了平均值的计算，包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。

 用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面，此分布可选定reference文件（作为角度的函数）。

 当有新数据导入到光学常数工具中，它会清理已经计算的结果。

 在注册菜单中增加了email按钮，授权表格可以非常容易的创建key请求。

 Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。

Runsheet

“Monitor Type”现在包含在 NVision导出中， NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。

Function

双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。

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