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分辨率的分析
时间:2021-01-18 21:59来源:讯技光电作者: 技术部点击:打印
如何更好地分辨物体是光学科学界一直存在的问题,因此如何判断光学系统的分辨率是一个重要的问题。根据Ernst Karl Abbe(1840-1905)和John William Strutt,Third Baron Rayleigh(1842-1919)等人的工作,我们在VirtualLab Fusion中演示了阿贝分辨率极限和瑞利判据,并说明了如何使用这两种分析来评估典型成像系统的性能。
 
用瑞利准则研究显微镜物镜的分辨率
 

 
根据瑞利判据,我们研究了三种不同数值孔径的显微物镜的分辨率。
 
阿贝理论成像的论证

 
我们搭建了成像系统,以金属光栅为实验对象,利用VirtualLab Fusion演示了阿贝的成像理论。
 
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