一、 光学元件加工
1. 菲涅尔透镜设计与加工
菲涅尔透镜的设计基于光的折射和反射原理。其同心棱纹结构能够对光线进行精确控制,使光线在通过透镜时发生折射和聚焦,从而实现与传统透镜相似的光学效果,但重量更轻、体积更小。
加工工艺:
a) 采用超精密单点金刚石车削技术进行菲涅尔透镜的加工。
b) 将熔融的树脂通过精密注塑机注入模具中,冷却后形成非球面透镜。
c) 根据应用需求,在透镜表面镀制增透膜、反射膜或其他功能性薄膜,以提高透镜的光学性能。
菲涅尔透镜
2. 非球面透镜设计加工
与传统的球面透镜相比,非球面透镜能够更好地校正光学系统中的像差,例如球差、彗差和像散,从而提高成像质量、减小系统体积和重量。
加工工艺
a) 模具加工:利用金刚石刀具在超精密车床上对透镜模仁进行切削
b) 注塑成型: 将熔融的树脂通过精密注塑机注入模具中,冷却后形成非球面透镜。
c) 表面镀膜: 根据应用需求,在透镜表面镀制增透膜、反射膜或其他功能性薄膜,以提高透镜的光学性能。
非球面透镜干涉仪测量
二、 光学元件与系统测量
1. 光学元件面型测量
采用干涉仪、非接触式轮廓仪等先进检测方法,本公司可提供快速、高精度三维光学元件面型测量服务。
主要测量功能及参数:
可检测元件类别:平面、球面、非球面、自由曲面等
可检测原件最大尺寸:D H: 反射镜2000 x 500mm;平面镜、透射镜1000 x 300 mm
测量精度:≤10 nm RMS(旋转对称面形);≤15 nm RMS(非旋转对称面形)
重复测量精度:≤3 nm RMS(旋转对称面形);≤6 nm RMS(非旋转对称面形)
曲率半径测量精度:≤5 µm (1英寸标准球)
2. 光学元件表面粗糙度面型测量
采用白光干涉仪,本公司可提供快速、高精度光学元件表面粗糙度测量服务。
主要测量功能及参数:
可检测类型:粗糙面、抛光面表面纹理、台阶高度;
测量精度:0.1nm。
3. 光学元件中心偏测量
采用双光路中心偏差测量仪,本公司可提供快速、高精度光学元件中心偏测量服务。
主要测量功能及参数:
可检测元件类别:单透镜中心偏差测量、胶合透镜中心偏差测量、单透镜曲率半径测量、镜头组中心偏差测量、可见光光学系统装调、红外光学系统装调;
测量模式:透射模式和反射模式;
被测镜片EFL或半径:±5mm~±2000mm;
中心偏差测量精度:±0.2μm或者±2″;
中心偏重复精度:±0.1μm或者±1″;
半径测量范围:±5mm~±900mm;
半径测量精度:0.3%;
被测镜头最大直径:400mm;
被测镜头最大高度:600mm;
被测镜头镜面数量:40面。
镜组装调测量结果
4. 光学系统MTF测量
采用MTF系统检测装备,本公司可提供快速、高精度光学系统MTF测量服务。
主要测量功能及参数:
可检测光学系统波段:紫外、可见光、中波红外、长波红外等
镜头焦距:5-2000mm;
最大通光口径:450mm;
最大离轴角度:±120°;
EFL测量精度:±0.3%;
MTF测量精度:±0.02MTF(轴上)、±0.03MTF(轴外);
MTF测量重复性:0.01MTF;
最大空间频率:UV(100lp/mm)、VIS-NIR(500lp/mm)、MWIR(80lp/mm)、LWIR(60lp/mm);
样品承载重量:20kg。
离轴角57°测量结果
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