一、 光学元件加工
1. 菲涅尔透镜设计与加工
菲涅尔透镜的设计基于光的折射和反射原理。其同心棱纹结构能够对光线进行精确控制，使光线在通过透镜时发生折射和聚焦，从而实现与传统透镜相似的光学效果，但重量更轻、体积更小。
加工工艺：
a) 采用超精密单点金刚石车削技术进行菲涅尔透镜的加工。
b) 将熔融的树脂通过精密注塑机注入模具中，冷却后形成非球面透镜。
c) 根据应用需求，在透镜表面镀制增透膜、反射膜或其他功能性薄膜，以提高透镜的光学性能。
菲涅尔透镜
2. 非球面透镜设计加工
与传统的球面透镜相比，非球面透镜能够更好地校正光学系统中的像差，例如球差、彗差和像散，从而提高成像质量、减小系统体积和重量。
加工工艺
a) 模具加工：利用金刚石刀具在超精密车床上对透镜模仁进行切削
b) 注塑成型: 将熔融的树脂通过精密注塑机注入模具中，冷却后形成非球面透镜。
c) 表面镀膜: 根据应用需求，在透镜表面镀制增透膜、反射膜或其他功能性薄膜，以提高透镜的光学性能。
非球面透镜干涉仪测量
二、 光学元件与系统测量
1. 光学元件面型测量
采用干涉仪、非接触式轮廓仪等先进检测方法，本公司可提供快速、高精度三维光学元件面型测量服务。
主要测量功能及参数：
可检测元件类别：平面、球面、非球面、自由曲面等
可检测原件最大尺寸：D H: 反射镜2000 x 500mm；平面镜、透射镜1000 x 300 mm
测量精度：≤10 nm RMS（旋转对称面形）；≤15 nm RMS（非旋转对称面形）
重复测量精度：≤3 nm RMS(旋转对称面形)；≤6 nm RMS（非旋转对称面形）
曲率半径测量精度：≤5 µm （1英寸标准球）
2. 光学元件表面粗糙度面型测量
采用白光干涉仪，本公司可提供快速、高精度光学元件表面粗糙度测量服务。
主要测量功能及参数：
可检测类型：粗糙面、抛光面表面纹理、台阶高度；
测量精度：0.1nm。
3. 光学元件中心偏测量
采用双光路中心偏差测量仪，本公司可提供快速、高精度光学元件中心偏测量服务。
主要测量功能及参数：
可检测元件类别：单透镜中心偏差测量、胶合透镜中心偏差测量、单透镜曲率半径测量、镜头组中心偏差测量、可见光光学系统装调、红外光学系统装调；
测量模式：透射模式和反射模式；
被测镜片EFL或半径：±5mm~±2000mm；
中心偏差测量精度：±0.2μm或者±2″；
中心偏重复精度：±0.1μm或者±1″；
半径测量范围：±5mm~±900mm；
半径测量精度：0.3%；
被测镜头最大直径：400mm；
被测镜头最大高度：600mm；
被测镜头镜面数量：40面。
镜组装调测量结果
4. 光学系统MTF测量
采用MTF系统检测装备，本公司可提供快速、高精度光学系统MTF测量服务。
主要测量功能及参数：
可检测光学系统波段：紫外、可见光、中波红外、长波红外等
镜头焦距：5-2000mm；
最大通光口径：450mm；
最大离轴角度：±120°；
EFL测量精度：±0.3%；
MTF测量精度：±0.02MTF（轴上）、±0.03MTF（轴外）；
MTF测量重复性：0.01MTF；
最大空间频率：UV（100lp/mm）、VIS-NIR(500lp/mm)、MWIR(80lp/mm)、LWIR(60lp/mm);
样品承载重量：20kg。
离轴角57°测量结果
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