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Techwiz LCD 1D的TN模式光学分析
时间:2021-01-27 21:44来源:未知作者: infotek点击:打印
TN模式的电极分别位于上下基板上,由垂直电场控制液晶分子旋转。常白型TN模式上下偏光板吸收轴相互垂直,常黑型TN模式上下偏光板的吸收轴相互平行。我们在Techwiz LCD 1D 中对这两种TN模式的光学特性进行分析,并讨论液晶盒厚度的影响。
 
创建堆栈结构
 
 
设定仿真条件,并把上偏光片和液晶盒厚度设置为变量并输入变量条件,最后执行结果分析。
 
 
结果分析
 
1.透过率随盒厚的变化
 
TN模式下不同波长透过率随液晶盒厚度d(um)的变化(常白模式opt.Axis:phi -135和常黑模式opt.Axis.phi -45)
 
可以看出透过率随着Δnd的增大而周期性变化,选择第一处极值(2.5um)为液晶盒厚分析光学特性。
 
2.透射率随电压的关系
 
TN模式下不同波长透过率随电压的变化(常白模式和常黑模式)
 
常黑模式的TN结构由于液晶材料的色散会存在一定暗态漏光(如图中绿光),常白模式暗态漏光极少且低灰阶色偏现象小,因此对比度相对较高,所以TN一般使用常白模式。
 
3.极坐标图
 
常白模式未施加电压下不同视角下的透过率的极坐标图
常白模式不同视角下对比度的极坐标图
 
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