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用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
时间:2017-09-12 11:42来源:讯技光电作者: 技术部点击:打印
光学测量 > 干涉测量
 
任务/系统说明


 
亮点


 
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换;
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真;
 
具体要求:光源
 
 
具体要求:用于准直的消色差透镜
 
 
 
 
 
具体要求:分束器
 

 
具体要求:参考光路反射镜
 



 
具体要求:测试光路反射镜
 

 
具体要求:探测器
 
 
结果:3D光线追迹
 
 
结果:场追迹


 
结果:移动样品的场追迹结果
 
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。
 
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