光学断层扫描干涉法 - 讯技光电科技(上海)有限公司

当前位置: 主页 > 服务项目 > 案例分析 > VirtualLab >

光学断层扫描干涉法

时间:2018-05-30 14:04来源:讯技光电作者: 技术部点击:次打印

摘要

扫描干涉法是实现表面高度测量的技术。通过利用白色光源的低相干性，只有当光程差在相干长度内，干涉图案才会出现。因此，它使精确微观测量成为可能。使用一个氙灯搭建了一个迈克耳孙干涉仪，用于测量具有平滑变化前表面的样品。

建模任务

结果

文件信息

关于我们公司介绍专家团队人才招聘讯技风采员工专区	服务项目产品销售课程中心专业书籍项目开发技术咨询
		联系方式地址：上海市嘉定区南翔银翔路819号中暨大厦18楼1805室邮编：201802 电话：86-21-64860708/64860576/64860572 传真：86-21-64860709 课程：course@infotek.com.cn 业务：sales@infotek.com.cn 技术：support@infotek.com.cn	官方微信

关于我们公司介绍专家团队人才招聘讯技风采员工专区	服务项目产品销售课程中心专业书籍项目开发技术咨询
		联系方式地址：上海市嘉定区南翔银翔路819号中暨大厦18楼1805室邮编：201802 电话：86-21-64860708/64860576/64860572 传真：86-21-64860709 课程：course@infotek.com.cn 业务：sales@infotek.com.cn 技术：support@infotek.com.cn	官方微信