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通过瑞利判据对显微镜物镜进行分辨率研究
时间:2019-12-26 16:18来源:讯技光电作者: 技术部点击:打印
摘要
 
通常可以采用瑞利判据理论表征显微镜的分辨率,瑞利判据是1896年由第三代瑞利男爵约翰·威廉·斯特拉特(John William Strutt)提出的。该理论认为,当一个艾里图样的中心与另一个艾里图样的第一个最小值重叠时,就可以分辨它们。在这个例子中,我们根据瑞利的理论,检验不同数值孔径(NA)显微物镜的分辨率。
 
建模任务
 
 
真实物镜的评估
 
 
真实物镜的评估
 
 
用德拜-沃尔夫积分法评价理想透镜
 
 
用德拜-沃尔夫积分法评价理想透镜
 
 
走进VirtualLab Fusion
 
 
VirtualLab Fusion的工作流程
 
从Zemax OpticStudio®导入透镜系统
- 从Zemax导入光学系统 [用例] 
分析实际透镜系统的成像性能
- 分析高NA物镜聚焦 [用例] 
使用Debye-Wolf积分作为参考
- Debey-Wolf积分计算器 [用例] 
 
 
VirtualLab Fusion技术
 
 
文件信息
 
 
延伸阅读
- 分析高NA物镜聚焦
- Debey-Wolf积分计算器
- 用德拜-沃尔夫积分研究理想矢量聚焦情况
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