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马赫泽德干涉仪
时间:2020-01-13 11:44来源:讯技光电作者: 技术部点击:打印
摘要

 
干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 
 
建模任务

 
由于组件倾斜引起的干涉条纹

 
由于偏移倾斜引起的干涉条纹

 
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