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用于光波导系统的均匀性探测器
时间:2022-03-24 21:22来源:讯技光电作者: 技术部点击:打印
摘要                                                              
 
在评估AR/MR(增强或混合现实)设备中光波导系统的性能时,眼动范围内光线分布的横向均匀性是最关键的参数之一。为了在设计过程中测量和优化横向均匀性,VirtualLab Fusion提供了均匀性探测器,可以进行所需的研究。在本文件中,我们将演示可用的选项以及如何操作均匀性探测器。

 
案例演示                                                                   

 
均匀性探测器   

                                                                  
 
探测器功能:相干参数                                        
如果存在多个相干模式,则重叠的模可以相干叠加、非相干叠加或部分相干叠加。
对于部分相干叠加,可以通过输入相干时间(或从相干时间和长度计算器复制)来指定相干程度。

 
探测器功能:光瞳参数   
                                                                   
均匀性探测器评估在配置的局部区域(称为光瞳)的照射强度。
每个光瞳由其大小(dx×dy)和形状定义,可以设置为椭圆形或矩形。


 
椭圆形光瞳:
 
矩形光瞳:
 
探测器功能:光瞳位置                 
                                      
一旦设置了所考虑的光瞳的大小和形状,则必须配置探测器窗口中的光瞳数量和位置。
第一个选项是,根据每个单独足迹的中心光线自动确定光瞳的位置。
探测器只会将光瞳放置在所有光瞳都在探测器窗口内的位置。所有其他部分足迹将被忽略。

                                                          
基于中心光线的光瞳位置示例       
                                               
                                                           
探测器功能:光瞳位置       
                                               
 
排列在网格上的光瞳位置示例                                                       
 

 
注:虚线圆圈仅用于演示光瞳,用户不会在模拟中看到它们
                                                           
眼箱中横向均匀性的测量                                                        

                                                          
均匀性探测器输出

                                                
                                                          
 
均匀性探测器输出示例                                                         

                                                             
文件信息                                                       


 
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